开关设备的电流开断过程是弧隙由小阻抗到高阻抗的变化过程。当熔断器中的电流从开断瞬时起，西安熔断器生产厂家其弧隙将会迅速从良导体转变为绝缘体，并且能承受电力系统加在弧隙上的恢复电压，以阻止电流通过弧隙。

熔断器分断故障电流后，弧隙还是一个具有一定电阻的导体，在恢复电压的作用下弧隙中就有电流通过，将此电流定义为弧后电流{ ( post-arccurrent)。

弧后电流研究，西安熔断器生产厂家对于熔断器的弧后电流研究，多为20世纪之前的研究，针对弧后电流的大小以及残躯电阻等方向。

弧后电流国外研究现状，1978年，M.R. Barrau在 PROC.IEE发表的文章Factors influencing the formation and structureof fuse fulgurites中首次提到 post-arc current的概念，并指出银和铝熔体的弧后电流均随着熔体几何尺寸的增大而增大，且相同几何形状的银熔体的弧后电流往往小于铝焰体弧后电流；

1992，波兰罗兹工业大学 Jakubluk K.， Lipski T在其论文 Dynamics of Fulqurite Formation

during Arcing in HRC Fuses中详细阐述了熔断器残躯的形成过程，并给出了熔断器弧后恢复过程集中在两条平行路径上；

一个是分散在石英砂中井与焰体未端电流连接的金属层之间的间隙

第二个是沿着熔融的二氧化硅壁。

同年，在第七届“ Switching Arc Phenomena国际会议上，罗兹工业大学的 Cwidak K， Lipski T.发表了 Post-arcresistance in h.b.c. fuses，将熔断器的弧后恢复过程用残躯电阻(熔断器两端恢复电压与弧后电流的比值)来反应Ehrhardt A， Nutch G.， Rother W发表了 Das Verhalten vonelektrischen Sicherungen nach Stromnull(西安熔断器生产厂家弧后电流特性)，指出熔断器弧后残躯电阳与温度有很大关系，Cwidak K， Lipski T。在1995发表的 New results on thepost-arc fulgurite resistance of h.b.c. fuses也进一步印证了这个观点。